X-7600 SDD/LE型X射线荧光光谱仪
价格： 电议 元卖家: 王玉梁
咨询： 
供货商：北京金恒祥仪器有限公司电 话：010-80767298；010-80767442
传 真：010-80767442
邮 箱：wyljhx2012@163.com
地 址：北京市昌平区北清路1号珠江摩尔大厦3号楼1单元503室
以上为X-7600 SDD/LE型X射线荧光光谱仪详细参数信息，X-7600 SDD/LE型X射线荧光光谱仪图片由北京金恒祥仪器有限公司提供，X-7600 SDD/LE型X射线荧光光谱仪
- 产品特性
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| X-7600 SDD/LE型X射线荧光光谱仪 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
产地：美国
主要特点：
1)X-7600SDD/LE 在带有二次靶技术的能量色散型X射线荧光分析仪领域中，引进专利技术，重新定义了“{zxj}”的概念,使得元素周期表中所有元素的检测都能得到{zj0}结果。
2)为分析调查和开发应用提供了高性能的解决方案，同时，为商业实验室分析提供了一种低成本、{gx}益的选择。
3)以高精度、sub-ppm检测精度为特色，在环保、地质和贵金属检测领域中，不管是轻元素还是重元素分析，X-7600SDD LE与其他分析仪器相比都具有更加{zy1}的检测性能；
4)提高了轻元素例如F、Ne、Na的检测精度；
5)SDD 探测器具有电子噪音低和高计数率的特点，与Si-PIN 探测器相比，SDD 探测器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析结果；
6)8 个二次靶为快速精确的定量分析提供了{zd0}程度的灵敏度，甚至是像合金、塑料、地质这样复杂的基质中。完全自定义的二次靶使得检测结果能达到sub-ppm 级别；
7)能够分析液体、固体、泥浆、粉末、片状物体等。并且分析样品室能够满足不用形状和尺寸样品的需要；
8)10个位置的自动进样器整体设计允许了{zd1}限度的操作员干预、自动加载以及无人照管操作；
9)该仪器检测快速，精准，使用方便。它具有坚固的计算机硬件和强大的分析软件能检测限低；
10)多通道采集分辨率为改良过的探测器提供优质的峰与峰的比率。
技术参数：
|
